寶石折光儀的介紹

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寶石折光儀定義

主要用來測定寶石折射率值的一種儀器。

鑒定寶石需要從晶體結構、比重、折光度、多向色性、硬度等多方面綜合考慮，即使同樣的寶石，產地不同，性質也有差異，價值也不同，如產自緬甸的紅寶石和產自泰國的，在光學性質和內部結構上都有一定的差異。

一、儀器結構

折光儀主要由高折射率棱鏡（鉛玻璃或合成立方氧化鋯）、棱鏡反射鏡、透鏡、標尺（內標尺或外標尺）和目鏡等組成。

二、工作原理

折光儀的工作原理是建立在全內反射的基礎上。該儀器是測量寶石的臨界角，并將讀數直接轉換成折射率值。

產生全反射的條件：

1．折光儀的高折射率棱鏡必須為光密介質

2．待測寶石為光疏介質

3．接觸液使棱鏡與待測寶石之間形成良好的光學接觸

三、操作要領

1．接通電源、打開儀器

2．用酒精清洗寶石和棱鏡

3．在折光儀棱鏡上點一滴接觸液（直徑約2mm為宜），使用鈉光照明，可見油的陰影邊界

4．寶石最大的臺面放入棱鏡上，浸油使寶石和棱鏡之間形成良好的光學接觸

5．眼睛靠近目鏡可觀察陰影區和明亮區并讀數，讀數保留小數點第三位

6．按順序轉動寶石360°，經驗豐富者可轉動寶石0°、45°、90°進行觀察和讀數

7．測試完畢，將寶石輕推至金屬臺上，取下寶石

8．清洗寶石和棱鏡

四、現象解釋

1．測寶石在折光儀上轉動360°時始終只有一條陰影邊界（固定不變），說明該寶石為各向同性寶石（單折射寶石）。

2．待測寶石在折光儀上轉動360°時，出現兩條陰影邊界，一條陰影邊界固定不變，另一條發生移動，說明該寶石為一軸晶寶石。如動值為大值，則為一軸晶正光性寶石；如動值為小值，則為一軸晶負光性寶石。

3. 待測寶石在折光儀上轉動360°時，兩條陰影邊界都移動，說明該寶石為二軸晶寶石。如高值移動超過中間值，說明β值接近α值為二軸晶正光性；如低值陰影邊界移動超過中間值，說明β值接近γ值為二軸晶負光性。

4. 點測法（遠視技術法）：針對弧面型和刻面較小的寶石

1) 清洗棱鏡和寶石

2) 在金屬臺上點一滴接觸油

3) 手持寶石，用弧面或小刻面接觸金屬臺上的接觸油，以油滴直徑為0.2mm為宜

4) 將沾有油滴的寶石輕置于棱鏡中央

5) 眼睛距目鏡25-45cm，平行目鏡前后移動頭部

6) 觀察油滴半明半暗交界處，讀數并記錄，讀數保留小數點后兩位

五、主要用途

1．鑒定寶石，可測定RI1.35-1.81之間寶石的折射率值

2．可測定寶石的雙折射率（DR）

3．確定寶石的軸性，如一軸晶、二軸晶和各向同性（等軸晶系、非晶質）

4．確定寶石的光性符號，如各向異性寶石的正光性和負光性

六、局限性

1．所測寶石一定要有拋光面

2．寶石的RI<1.35或者>1.81都無法讀數

3．不能區分某些人工處理寶石，如天然藍寶石與熱處理藍寶石

4．不能區分某些合成寶石，如天然紅寶石與合成紅寶石

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